IC封裝主要是為了實現(xiàn)芯片內(nèi)部和外部電路之間的連接和保護作用。而集成電路測試就是運用各種測試方法，檢測芯片是否存在設(shè)計缺陷或者制造過程導(dǎo)致的物理缺陷。為了確保芯片能夠正常使用，在交付給整機廠商前必須要經(jīng)過的Z后兩道過程：封裝與測試。封測是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈里必不可少的環(huán)節(jié)，其中封和測是兩個概念。從全球封測行業(yè)市場規(guī)模來看，其中封裝和測試占比分別為80%和20%，多年來占比保持穩(wěn)定。一、發(fā)展歷程封裝大致經(jīng)過了如下發(fā)展歷程：1、結(jié)構(gòu)方面：TO－>DIP－>PLCC－>QFP－>BGA－>CSP－>WLP和SiP等2、材料方面：金屬、陶瓷－>陶瓷、塑料－>塑料；3、引腳形狀：長引線直插－>短引線或無引線貼裝－>球狀凸點4、裝配方式：通孔插裝－>表面組裝－>直接安裝5、封裝不斷改進的驅(qū)動力：尺寸變小、芯片種類增加,I/O增加6、難點：工藝越來越復(fù)雜、縮小體積的同時需要兼顧散熱、導(dǎo)電性能等。測試芯片是否能夠正確地執(zhí)行預(yù)定的功能。珠海什么是芯片測試流程

集成電路是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的核xin，占整個半導(dǎo)體行業(yè)規(guī)模的 80%以上。 半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)主要包 括集成電路（Integrated Circuit，簡稱 IC）和分立器件兩大類，各分支包含的種類繁多且 應(yīng)用廣。集成電路應(yīng)用領(lǐng)域覆蓋了幾乎所有的電子設(shè)備，是計算機、家用電器、數(shù)碼電 子、自動化、通信、航天等諸多產(chǎn)業(yè)發(fā)展的基礎(chǔ)，是現(xiàn)代工業(yè)的生命線，也是改造和提升 傳統(tǒng)產(chǎn)業(yè)的核xin技術(shù)。按其功能、結(jié)構(gòu)的不同，集成電路又可以分為模擬集成電路、數(shù)字 集成電路和數(shù)模混合集成電路等。 集成電路的生產(chǎn)流程可分為設(shè)計、制造、封裝與測試三 個步驟。大容量芯片測試流程靜態(tài)測試主要是對芯片的電氣特性進行測試，如電壓、電流、功耗等。

IC產(chǎn)業(yè)繼續(xù)高度細化分工，芯片測試走向?qū)I(yè)化也必定是大勢所趨。首先，IC制程演進和工藝日趨復(fù)雜化，制程過程中的參數(shù)控制和缺陷檢測等要求越來越高，IC測試專業(yè)化的需求提升；其次，芯片設(shè)計趨向于多樣化和定制化，對應(yīng)的測試方案也多樣化，對測試的人才和經(jīng)驗要求提升，則測試外包有利于降低中小企業(yè)的負擔(dān)，增加效率。此外，專業(yè)測試在成本上具有一定優(yōu)勢。目前測試設(shè)備以進口為主，單機價值高達30萬美元到100萬美元不等，重資產(chǎn)行業(yè)特征明顯，資本投入巨大，第三方測試公司專業(yè)化和規(guī)?；瘍?yōu)勢明顯，測試產(chǎn)品多元化加速測試方案迭代，源源不斷的訂單保證產(chǎn)能利用率。因此，除Fabless企業(yè)外，原有IDM、晶圓制造、封裝廠出于成本的考慮傾向于將測試部分交由第三方測試企業(yè)。

后道檢測主要可以分為 CP 晶圓測試、FT 芯片成品測試兩個環(huán)節(jié)。1）CP 晶圓測試：通過探針扎取芯片，將各類信號輸入進芯片，再通過抓取芯片的輸出響應(yīng)，計算、測試晶 圓的性能。該環(huán)節(jié)發(fā)生在晶圓完成后、封裝前，主要任務(wù)為挑揀出不合格裸片，統(tǒng)計晶圓 上的管芯合格率、不合格管芯的確切位置，終反映出晶圓的制造良率。CP 晶圓測試環(huán)節(jié) 主要使用的設(shè)備為探針臺、測試機。2）FT 芯片成品測試：FT 測試即為終測，由于經(jīng)歷后 道工序的電路有損壞的風(fēng)險，因此在封裝后要根據(jù)測試規(guī)范對電路成品進行全方面的性能檢 測。該環(huán)節(jié)發(fā)生在芯片封裝后，主要任務(wù)為挑選出合格的成品電路，根據(jù)器件性能的參數(shù) 指標進行分級，并記錄各級的器件數(shù)以及各種參數(shù)的統(tǒng)計分布情況。芯片測試的重要性不言而喻。

芯片測試座的三大作用：芯片測試座檢查在線的單個元器件以和各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡單、故障定位準確，快捷迅速等特點。簡單點描述就是一個連接導(dǎo)通的插座;作用一：來料檢測，采購回來的IC在使用前有時會進行品質(zhì)檢驗，找出不良品，從而提高SMT的良品率。IC的品質(zhì)光憑肉眼是看不出來的，必須通過加電檢測，用常用的方法檢測IC的電流、電壓、電感、電阻、電容也不能完全判斷IC的好壞;通過IC測試夾具應(yīng)用功能跑程序，可以判斷IC的好壞。作用二：返修檢測，有時生產(chǎn)過程中主板出了問題，倒底是哪里出了問題?不好判斷!有了IC測試治具什么都好說，把拆下的IC放到測試座內(nèi)通過測試就能排除是否IC方面的原因。作用三：IC分檢，返修的IC，在拆下的過程有可能損壞，用IC測試治具可以將壞的IC分檢出來，可以節(jié)省很多人力、物力，從而減小各項成本。拿BGA封裝的IC來說，如果IC沒有分檢，壞的IC貼上經(jīng)過FCT測試檢查出來后，把IC拆下來，要烘烤、清洗，很麻煩，還有可能損壞相關(guān)器件。用IC測試夾具檢測就可以大減少出現(xiàn)上述問題的機率。擁有20年半導(dǎo)體經(jīng)驗。中國臺灣本地芯片測試廠家電話

OPS提供網(wǎng)際網(wǎng)絡(luò)測，燒服務(wù)廠商！珠海什么是芯片測試流程

芯片融合時代：測試也要“上天”過去簡單的電子技術(shù)就可以滿足的需求，如今可能需要人工智能、機器學(xué)習(xí)、無人駕駛、醫(yī)療儀器、基礎(chǔ)設(shè)施擴建等多元覆蓋實現(xiàn)。終端應(yīng)用領(lǐng)域?qū)τ诎雽?dǎo)體技術(shù)的要求亦呈指數(shù)增長。因此，半導(dǎo)體元器件必須具備極高的可靠性，半導(dǎo)體測試設(shè)備對于供應(yīng)鏈的價值也由此變得更加重要。對應(yīng)迅速更新迭代的智能世界，先進制程升級要求半導(dǎo)體檢測技術(shù)快速迭代，因而對于ATE機臺來說，平臺通用化、模塊化、靈活性高、可升級是未來技術(shù)發(fā)展的大趨勢。系統(tǒng)級測試（SLT，systemleveltest）、大數(shù)據(jù)分析、ATPG編程自動化等，都是測試領(lǐng)域應(yīng)對未來半導(dǎo)體市場發(fā)展面臨的挑戰(zhàn)，這需要測試設(shè)備廠商有超前的技術(shù)眼光，隨時跟進市場需求珠海什么是芯片測試流程

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